高速多用途半导体分立器件测试系统

发布时间：2011年1月21日   |   阅读次数： 1447

BR3500测试系统是一项高速多用途半导体分立器件智能测试系统。它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力。可真实准确测试达十九大类二十七分类大、中、小功率的半导体分立器件。 一、可测试种类 1．二极管 Diode 2．稳压（齐纳）二极管 Zener 3．晶体管 Transistor（NPN型/PNP型） 4．可控硅整流器（普通晶闸管） SCR 5．双向可控硅（双向晶闸管） TRIAC 6．MOS场效应管 Power MOSFET（N-沟/P-沟） 7．结型场效应管 J-FET （N-沟/P-沟，耗尽型/增强型） 8. 三端稳压器 REGULATOR（正电压/负电压，固定/可变） 9．绝缘栅双极大功率晶体管 IGBT（NPN型/PNP型） 10.光电耦合器 OPTO-COUPLER（NPN型/PNP型） 11.光电逻辑器件 OPTO-LOGIC 12.光电开关管 OPTO-SWITCH 13.达林顿阵列 14.固态过压保护器 SSOVP 15.硅触发开关 STS 16.继电器 RELAY（A、B、C型） 17.金属氧化物压

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